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霍爾測試

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設(shè)備:霍爾效應測試系統(tǒng)HL5500PC

廠商:nanometrics

用途:利用霍爾效應可以測量半導體材料的導電特性,從而獲得載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)、導電類型等重要參數(shù)。    

技術(shù)指標:

l  可測試室溫和77K下材料的載流子密度、薄層電導率、載流子遷移率等參數(shù)

l  可測試高達100G歐姆的材料


  • 地址:廣東省東莞市松山湖國家高新區(qū)總部一號12棟5樓

  • 電話:0769-33882377

  • 郵箱:nfjc@cwbg-nf.com

  • 傳真:0769-23078230

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